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簡要描述:keithley4200-SCP2HR 200MS Dual-Channel Oscilloscope Card 高分辨率開關(guān)矩陣擴(kuò)展模塊
詳細(xì)介紹
品牌 | Keithley/美國吉時(shí)利 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Keithley 4200-SCP2HR 是 吉時(shí)利(Keithley)4200-SCS 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 的 高分辨率開關(guān)矩陣擴(kuò)展模塊,專為 晶圓級(jí)測試、多器件并行測量和高精度信號(hào)路由 而設(shè)計(jì)。作為 4200-SCP2 系列 的升級(jí)版本,"HR"(High Resolution)代表其 增強(qiáng)的信號(hào)完整性和低噪聲特性,適用于 納米器件、低維材料、MEMS傳感器等精密測試場景。
矩陣規(guī)模:支持 2×16 或 4×16 配置(可根據(jù)需求擴(kuò)展)。
通道數(shù):最多 64 個(gè)高精度繼電器通道,支持 多器件并行測試。
低熱電動(dòng)勢設(shè)計(jì):采用 鍍金觸點(diǎn)繼電器,熱電動(dòng)勢 <1μV,確保 微小信號(hào)傳輸精度。
低噪聲路徑:
通道間串?dāng)_ <0.1pF(典型值)。
路徑電阻 <2Ω(確保高電流測試準(zhǔn)確性)。
屏蔽保護(hù):
每個(gè)通道配備 Guard保護(hù)端子,減少漏電流干擾。
支持 三線測量(Force-Sense-Guard),適合高阻測量(如柵極漏電流測試)。
模塊化設(shè)計(jì):可插入 4200-SCS 主機(jī),與其他模塊(如4210-SMU、4210-CVU)協(xié)同工作。
多模式支持:
掃描模式:自動(dòng)切換通道,實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位測試。
并行模式:同時(shí)連接多個(gè)被測器件(DUT),提高測試效率。
兼容性:
與 4200-SCS 軟件無縫集成,支持圖形化測試流程配置。
可通過 SCPI 命令或 TSP®腳本控制。
接口支持:
GPIB、LAN、USB 遠(yuǎn)程控制。
配套 Keithley KickStart 軟件快速配置。
多芯片并行測試:通過開關(guān)矩陣快速切換探針,實(shí)現(xiàn)晶圓上不同器件的自動(dòng)化測量。
參數(shù)分布分析:掃描晶圓表面,繪制電學(xué)參數(shù)(如閾值電壓、漏電流)的空間分布圖。
石墨烯/碳納米管器件:高阻測量時(shí)避免信號(hào)衰減。
量子點(diǎn)器件:微弱電流(f)的精確路由。
多傳感器陣列:同步監(jiān)控多個(gè)傳感器的響應(yīng)信號(hào)。
高精度激勵(lì)-測量:為MEMS提供低噪聲測試環(huán)境。
HTOL(高溫工作壽命):多器件長時(shí)間監(jiān)測。
TDDB(介質(zhì)擊穿):自動(dòng)切換測試點(diǎn)位。
參數(shù) | 規(guī)格 |
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矩陣配置 | 2×16 或 4×16(可擴(kuò)展) |
通道數(shù) | 最大64通道 |
繼電器類型 | 鍍金觸點(diǎn),低熱電動(dòng)勢(<1μV) |
路徑電阻 | <2Ω(典型值) |
最大開關(guān)電壓 | 200V DC |
最大開關(guān)電流 | 1A(連續(xù)) |
通道間隔離 | >1GΩ(100V時(shí)) |
兼容系統(tǒng) | 4200-SCS 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) |
特性 | 4200-SCP2HR | 4200-SCP2 |
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信號(hào)完整性 | 優(yōu)化屏蔽與Guard設(shè)計(jì),更低噪聲 | 標(biāo)準(zhǔn)屏蔽 |
熱電動(dòng)勢 | <1μV | <5μV |
適用場景 | 納米器件、f測量 | 常規(guī)半導(dǎo)體測試 |
價(jià)格 | 較高 | 較低 |
基礎(chǔ)配置:
4200-SCS 主機(jī)
4210-SMU(源測量單元)
4200-SCP2HR 開關(guān)矩陣
擴(kuò)展需求:
4210-CVU(電容測試):用于MOS電容掃描。
4200-PA(前置放大器):增強(qiáng)微弱信號(hào)檢測。
附件:
低噪聲測試線纜。
屏蔽測試夾具(用于高阻測量)。
Keithley 4200-SCP2HR 是 高分辨率開關(guān)矩陣擴(kuò)展模塊 面向半導(dǎo)體和納米器件測試的專業(yè)開關(guān)矩陣,其 高分辨率、低噪聲和靈活的路由能力 使其成為:
優(yōu)良制程研發(fā) 的工具
低維材料研究 的理想選擇
晶圓級(jí)自動(dòng)化測試 的核心模塊
對于需要 高精度、多通道并行測試 的應(yīng)用場景,4200-SCP2HR 提供了 信號(hào)完整性 和 測試效率 的優(yōu)良平衡。如需更詳細(xì)的技術(shù)資料,建議訪問 Keysight Technologies 或聯(lián)系當(dāng)?shù)丶夹g(shù)支持。
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